改進(jìn)型粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)eLiPMS-2000plus 配三菱化學(xué)MCP-T700

多用途：粉末電阻率、密度及成型片狀材料測(cè)試

系統(tǒng)搭配三菱化學(xué)高精度四探針儀（MCP-T700），提高測(cè)試精確度及測(cè)試效率

特點(diǎn)：

1)內(nèi)置的精密四探針探頭模腔組件及精密荷重測(cè)力傳感器單元，最大施加壓力 30KN，約 95MPa； 在最大壓力范圍內(nèi)可設(shè)置任意壓力點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試分析。一鍵啟動(dòng)，自動(dòng)進(jìn)行加壓、測(cè)試、釋放。

2)簡易操作軟件界面，可設(shè)置不同壓力點(diǎn)及保壓時(shí)間（保壓時(shí)間到再測(cè)試），自動(dòng)測(cè)量壓實(shí)下粉末之電阻、電阻率、電導(dǎo)率、厚度、壓強(qiáng)、顆粒壓實(shí)密度特性等參數(shù)。

3)系統(tǒng)通過與三菱化學(xué) LORESTA-GX(MCP-T700)高精度四探針儀連接，可測(cè)試寬范圍之粉體阻抗特征。

電阻測(cè)試范圍：0.001*10-4~9.999*107Ω；

電阻率=Ω*RCF*t（RCF 為糾正因子，t 為厚度單位 cm）

4)*的探針單元，高精度四探針測(cè)試原理，消除樣品與探頭及引線所引起的誤差。

也可以裁剪φ20mm 的正負(fù)電極片樣品來測(cè)試電池極片在不同壓力下的電阻變化；

或者單獨(dú)使用 MCP-T700 及其標(biāo)配探頭或選配探頭來測(cè)試片材，所謂多用途。

測(cè)試領(lǐng)域：

碳粉、金屬粉末、其他粉末

系統(tǒng)構(gòu)成：

自動(dòng)粉末加壓測(cè)試機(jī)主體

電阻率計(jì)：三菱化學(xué)MCP-T700

測(cè)試軟件

辦公電腦

使用：

四點(diǎn)探針測(cè)試原理，僅需將四探針探頭按壓在樣品表面即可測(cè)試。

可提供售后服務(wù) 現(xiàn)場安裝